透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統(tǒng)

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更新時間：2022-10-03 09:07:27瀏覽次數(shù)：97次

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產品簡介

透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統(tǒng)，如本頁面您未找到需要的產品，請直接聯(lián)系客服透射電子顯微鏡原位STM-TEM測量系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域

詳細介紹

透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統(tǒng)，如本頁面您未找到需要的產品，請直接聯(lián)系客服

透射電子顯微鏡原位STM-TEM測量系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

性能指標
透射電鏡指標：?

● 兼容電鏡型號及極靴；

● 可選雙傾版本，雙傾電學測量樣品桿Y軸傾角±25°（同時受限于極靴間距）；

● 保證透射電鏡原有分辨率。

電學測量指標：

● 包含一個電流電壓測試單元；

● 電流測量范圍：１ nA-30 mA，9個量程；

● 電流分辨率：優(yōu)于100 fA；

● 電壓輸出范圍：普通模式±10 V，高壓模式±150 V；