產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
目前，對(duì)中小規(guī)模數(shù)字IC進(jìn)行簡(jiǎn)單的邏輯功能測(cè)試，已不能滿足IC用戶的測(cè)試需求。市場(chǎng)上所見到的<功能測(cè)試儀>無(wú)法對(duì)IC器件進(jìn)行直流參數(shù)測(cè)試和比較，因此會(huì)把74LS373與74LS374、74LS352、74LS353、74LS125與74LS32及OC門與圖騰柱輸出門等功能性能特性*不一致的器件混為一類。<功能測(cè)試儀>實(shí)用價(jià)值很低，用這類儀器測(cè)試通過(guò)后的IC，有時(shí)上機(jī)卻不能正常使用。給生產(chǎn)及調(diào)試人員增添了不少煩惱!
GT2100A數(shù)字集成電路多參數(shù)測(cè)試儀,幫助您解決這類煩惱！
GT2100A 數(shù)字集成電路多參數(shù)測(cè)試儀，利用的多值參數(shù)比較法，可以對(duì)數(shù)字IC進(jìn)行功能測(cè)試的同時(shí)完成各項(xiàng)直流參數(shù)測(cè)試。GT2100A*可以滿足IC用戶的參數(shù)測(cè)試要求。GT2100A是一種性能實(shí)用、操作簡(jiǎn)單、測(cè)試可信度高、成本低廉的測(cè)試儀器。
數(shù)字集成電路多參數(shù)測(cè)試儀GT2100A 適合器件生產(chǎn)廠、整機(jī)生產(chǎn)廠作器件測(cè)試篩選之用，也適合科研、學(xué)校、、IC經(jīng)銷商使用。
1． 測(cè)試電源拉偏狀態(tài)下，輸出電平加載測(cè)試。
2． 對(duì)輸出電流、輸出電壓直流參數(shù)進(jìn)行測(cè)試的同時(shí)，完成真值表功能測(cè)試。
3． 真值表功能測(cè)試的同時(shí)，完成“三態(tài)”（高阻狀態(tài)）漏電流測(cè)試。
4． 對(duì)IC輸入電流、功耗電流測(cè)試。
5． 輸入漏電流及交叉漏電流測(cè)試。
6． 測(cè)試過(guò)程無(wú)須人工干預(yù)。
7． 用戶可以自選測(cè)試模式，使用方便、操作簡(jiǎn)潔。
8． 可自動(dòng)識(shí)別74系列中的CMOS器件。
9． 可以查找未知IC的型號(hào)。
在功能測(cè)試的基礎(chǔ)上
1. 測(cè)試器件的輸入端注入電流。
2.測(cè)試器件的輸入端交叉漏電流。
3.測(cè)試器件的輸出端“三態(tài)”及“OC”門。
4. 測(cè)試器件的輸出負(fù)載電流。
5. 測(cè)試器件的功耗電流。
6.查找未知芯片型號(hào)。
7. 可以單次測(cè)試，也可以循環(huán)測(cè)試.
8.可自動(dòng)識(shí)別74系列中的CMOS器件（如：74C、74HC、74HCT等）。當(dāng)被測(cè)芯片被確認(rèn)為74系列CMOS器件時(shí)，儀器將自動(dòng)地對(duì)其進(jìn)行測(cè)試并在顯示屏前顯示一個(gè)“C”字（此時(shí)被測(cè)器件電源為TTL電源）。
1.8種可選擇的測(cè)試電源。
2.根據(jù)不同材料的IC設(shè)置多種輸入端注入電流。
3. 多種測(cè)試電壓比較值。
4. 功耗測(cè)試。
以上參數(shù)的不同組合構(gòu)成不同的測(cè)試模式，其中包括用戶自定義模式及全組合測(cè)試模式。
1.模式O： 全組合參數(shù)測(cè)試。
2.模式1-C：操作與模式O相同，但各有其不同的測(cè)試參數(shù)數(shù)值。
3.模式D： 任選輸入負(fù)載電流及測(cè)試電源和輸入電流測(cè)試。
4.模式E： 自檢。內(nèi)容包括計(jì)算機(jī)部分、顯示、鍵盤及測(cè)試管腳電路。
5.模式F： 自編程測(cè)試。
1. 54 系列；4500 系列；
2. RAM 256K bit
3.74 系列；40000 系列；
4. EPROM 64K bit
5. 4000 系列；C00 系列。
6.光耦
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