用戶可自行設置數據輸出的界面
三十年技術創新,迎來第十代全新產品
我們的干涉儀是一個包含了的垂直掃描干涉技術(VSI模式),掃描頭傾斜調整,的自動校準和雙LED照明等革新技術。
ContourGT系列既結合了這些已被證實的設計功能,又在硬件上進行了大量的改進,從而給用戶提供了目前精確的、重復性光學輪廓儀性能。 Bruker的光學輪廓儀具有已被證實的,將近三十年的*性能運行跟蹤記錄,從研究型實驗室到生產型工廠的上萬臺安裝記錄。
震動隔離性能*
ContourGT-X光學輪廓儀配備有一體式的氣動平臺和雙層金屬鑄件,此兩種設計都是為了隔離震動以避免干擾測量效果,從而獲得快速、精確的、可通過GRR測試的測量結果。光學計量模塊(OMM)
OMM結合了Bruker的雙LED照明光源技術,在任何樣品任意放大倍數下均可提供的照明強度和均勻性。OMM還能在整個10mm測量量程內提供無以倫比的準確性和可重復性。馬達驅動的多放大倍率檢測器可包含三個視場目鏡,以放大倍率的靈活性和穩定性。自校準功能*
ContourGT系列可選擇型號中,具有包含Bruker技術的內置一級標準自校準功能的能力,使得閉環掃描的性能。此模塊包含一個參考信號,在儀器啟動時對系統進行自校準,然后連續監控并校正每次測量,以保證的精確度和重復性。傾斜調整支架*
Bruker的傾斜調整支架設計可使得OMM傾斜,而不是樣品傾斜。這樣,被測量的樣品將總處于聚焦位置,并且在測量的視野中,確保了操作的一致性和簡易性。
*這些選項僅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型號上具有。自動樣品臺
在ContourGT-X型號中具有全自動的8英寸或12英寸樣品臺。兩種樣品臺均配備有0.5um重復性的編碼器。ContourGT-K1型具有可選的6英寸馬達驅動樣品臺。還可選配具有Z方向聚焦旋鈕的XY操縱桿。塔臺
選配的馬達驅動塔臺可安裝最多4個干涉物鏡,從1倍至100倍。塔臺設計確保了當您切換物鏡時,您的測試點始終處于聚焦和中心位置。輔助操作燈泡*
在防震臺的后面配備有一個LED光源以幫助樣品聚焦和確保操作可觀度。