1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶測量面與工件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具的測量面、工作面的平面度。亦用于檢定高精度的平面零件，例如：平面光學(xué)零件，高級(jí)平臺(tái)，平板，導(dǎo)軌，機(jī)械密封件等。平面平晶特別適用于計(jì)量單位，檢測實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面基準(zhǔn)。

2、符合標(biāo)準(zhǔn)：JJG28-2000

3、產(chǎn)品視頻展示地址如下：

/videoshow-437.html

2、精度：按JJG_28-2000標(biāo)準(zhǔn)：

1） 平晶精度：1級(jí)

a.直徑 30mm~60mm 0.03μm

b.直徑 80mm~150mm 0.05μm

c.直徑 200mm~300mm 0.08μm

d.直徑 300mm~600mm 0.1~0.2μm

3） 平行度誤差：Ⅰ級(jí) 0.6μm

4）平晶的材料： K9光學(xué)玻璃

檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) （GB 903 無色光學(xué)玻璃）

5） 平晶須放置在(20士5)℃和濕度不大于80 % RH的檢定室內(nèi)進(jìn)行等溫，等溫時(shí)間不少于8h。

標(biāo)配：平晶1塊，合格證1張，鋁合金盒1個(gè)

選購：第三方計(jì)量檢定證書，鈉光燈箱。