XRF-350B是專門針對ROHS、EN71等環保指令設計得一款產品。打破傳統儀器直線的設計，采用流線體的整體化設計，儀器時尚大方。采用美國型的Si-pin探測器，電致冷而非液氮制冷，體積小、數據分析準確且維護成本低。采用自主研發的SES信號處理系統，有效提高測量的靈敏度，讓測量更精確。一鍵式自動測試，使用更簡單，更方便，更人性化。七種光路校正準直系統，根據不同樣品自動切換。多重防輻射泄露設計，輻射防護級別屬于同類產品。
一、XRF-350B機型指標介紹 1.1 工作條件工作溫度：15-30℃相對濕度：40%～50% 電 源：AC :220V ±5V 1.2 技術性能及指標:1.2.1 元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)；1.2.2 元素含量分析范圍為1 PPm到99.99%；1.2.3 測量時間：100-300秒；1.2.4 RoHS指令規定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其檢測限度達1PPM； 1.2.5 能量分辨率為160±5電子伏特；1.2.6 溫度適應范圍為15℃至30℃；1.2.7 電源：交流220V±5V；（建議配置交流凈化穩壓電源。） 1.3 產品特點1.3.1 XRF-350B是專門針對ROHS、EN71等環保指令設計得一款產品。1.3.2打破傳統儀器直線的設計，采用流線體的整體化設計，儀器時尚大方。1.3.3采用美國型的Si-pin探測器，電致冷而非液氮制冷，體積小、數據分析準確且維護成本低。1.3.4采用自主研發的SES信號處理系統，有效提高測量的靈敏度，讓測量更精確。1.3.5一鍵式自動測試，使用更簡單，更方便，更人性化。1.3.6七種光路校正準直系統，根據不同樣品自動切換。1.3.7多重防輻射泄露設計，輻射防護級別屬于同類產品。1.3.8*的一體化散熱設計，使整機散熱性能得到極大提高，保證了核心部件的運行安全。1.3.9的機芯溫控技術，保證X射線源的安全可靠運行，有效延長其使用壽命，降低使用成本。1.3.10多重儀器配件保護系統，并可通過軟件進行全程監控, 讓儀器工作更穩定、更安全。1.3.11ROHS專用測試軟件，標準視窗設計，界面友好，操作方便。1.3.12本機采用USB2.0接口，有效地保證了數據準確高速有效的傳輸。 二、儀器硬件部分主要配置 2.1 Si-pin電制冷半導體探測器（型探測器）2.1.1 Si-pin電制冷半導體探測器；分辨率：160±5電子伏特2.1.2 放大電路模塊:對樣品特征X射線進行探測；把探測采集的信息,進一步放大。 2.2 X射線激發裝置2.2.1 燈絲電流輸出：1mA；2.2.2 屬于半損耗型部件，50W，空冷。 2.3 高壓發射裝置2.3.1 電壓輸出： 50kV；2.3.2 最小5kv可控調節2.3.3 自帶電壓過載保護 2.4 多道分析器2.4.1 將采集的模擬信號轉換成數字信號,并將處理結果提供給上位機軟件。2.4.2 道數： 4096；2.4.3 包含信號增強處理 2.5 光路過濾模塊2.5.1 降低X射線光路發送過程中的干擾，保證探測器接收信號準確。2.5.2 將準直器與濾光處整合； 2.6 準直器自動切換模塊2.6.1 多達8種選擇，口徑分別為8＃, 6＃, 4＃, 3＃，2＃, 1＃, 0.5＃,0.2＃。 2.7 濾光片自動切換模塊2.7.1 六種濾光片的自由選擇和切換。 2.8 工作曲線自動選擇模塊2.8.1 自動選擇工作曲線，摒棄手動選擇，避免人為操作失誤，將自動化和智能化，演繹得更，使操作更人性，更方便。 三、專用軟件3.1軟件簡介專門針對ROHS檢測而開發，對采集的光譜信號進行數據處理、計算并報告顯示測量結果。3.2功能介紹※專門應對歐盟RoHS指令中六種物質涉及的六種元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr，Cl測試，測量時間為100-300秒※操作界面簡潔直觀，使用方便，無需專業人士操作※可自動選擇適合的校準曲線，測量更方便，更準確。※中英文界面自動切換，并具有第三方語言訂制功能※自動校準儀器。※自帶樣品材質定性分析，防止手動用戶選擇錯誤曲線※多種報告形式打印。※可同時顯示多個光譜圖※的機芯溫度監控技術，保證X射線源的安全可靠運行，有效延長其使用壽命，降低使用成本。
四、樣品配置 標準樣品用于制作工作曲線4.1 樣品腔 開放式大樣品腔 4.2 標樣 歐盟標樣E60K 純銀樣品 五、產品保修及售后服務 5.1 對客戶方操作人員免費進行培訓。5.2 安裝、調試、驗收、培訓及技術服務均為免費在用戶方現場對操作人員進行培訓。5.3正常使用，經本公司售后服務部技術人員確認屬工藝或材質缺陷引起的故障，且未經拆修，儀器自驗收合格之日起保修一年。5.4 產品終身維修。（客戶必須有填寫詳細、真實的有效購買憑證，發票和保修卡等）5.5 免費提供軟件升級；5.6 提供的技術服務，在接到用戶故障信息后，5分鐘內響應，如有需要，5小時內派人上門維修和排除故障。 儀器硬件部分主要配置：
2.1 Si-pin電制冷半導體探測器（型探測器）
2.1.1 Si-pin電制冷半導體探測器；分辨率：160±5電子伏特
2.1.2 放大電路模塊:對樣品特征X射線進行探測；把探測采集的信息,進一步放大。
2.2 X射線激發裝置
2.2.1 燈絲電流輸出：1mA；
2.2.2 屬于半損耗型部件，50W，空冷。
2.3 高壓發射裝置
2.3.1 電壓輸出： 50kV；
2.3.2 最小5kv可控調節
2.3.3 自帶電壓過載保護
2.4 多道分析器
2.4.1 將采集的模擬信號轉換成數字信號,并將處理結果提供給上位機軟件。
2.4.2 道數： 4096；
2.4.3 包含信號增強處理
2.5 光路過濾模塊
2.5.1 降低X射線光路發送過程中的干擾，保證探測器接收信號準確。
2.5.2 將準直器與濾光處整合；
2.6 準直器自動切換模塊
2.6.1 多達8種選擇，口徑分別為8＃, 6＃, 4＃, 3＃，2＃, 1＃, 0.5＃,0.2＃。
2.7 濾光片自動切換模塊
2.7.1 六種濾光片的自由選擇和切換。
2.8 工作曲線自動選擇模塊
2.8.1 自動選擇工作曲線，摒棄手動選擇，避免人為操作失誤，將自動化和智能化，演繹得更，使操作更人性，更方便。
技術性能及指標:
1.2.1 元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)；
1.2.2 元素含量分析范圍為1 PPm到99.99%；
1.2.3 測量時間：100-300秒；
1.2.4 RoHS指令規定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其檢測限度達1PPM；
1.2.5 能量分辨率為160±5電子伏特；
1.2.6 溫度適應范圍為15℃至30℃；
1.2.7 電源：交流220V±5V；（建議配置交流凈化穩壓電源。）
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