半導體激光數(shù)碼管型塵埃粒子計數(shù)器CLJ-E

一、技術指標：（執(zhí)行JJF1190-2008塵埃粒子計數(shù)檢定規(guī)程）

自凈時間： ≤20min

重復性：≤±10%FS

粒徑分布誤差：≤±30%

粒子濃度示值誤差：≤±30%

采樣流量誤差：2.83升/分≤±5%

安全性能：絕緣電阻＞20M (正常大氣條件)

二、其它參數(shù)：              

供電220VAC±10%50HZ

可測顆粒濃度：≤30萬顆/2.83升

粒徑分檔：0.3、0.5、1、3、5、10（um）

可測凈化級別范圍：100級～30萬級之間任意級別

外型尺寸： 220×280×135mm3（寬×深×高）

重量：4.5KG

三、使用條件：

溫度：10℃—35℃

相對濕度：RH≤75%

正常大氣壓，凈化環(huán)境

四、其他

1.內置式打印機，自動打印測試結果。

2.附詳細說明書，合格證，檢測報告，保修卡，三角架，打印紙，使用方法簡單明了，操作方便鋁合金精美包裝箱，攜帶方便，內配可拆式活動伸縮式調節(jié)測量管。

本公司產品的技術參數(shù)、價格、圖片等隨產品發(fā)展而更改，請隨時聯(lián)系，以實際出廠產品為準。