產品型號：45MG

　　產品概述

　　45MG 儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。這款特色的儀器與所有 Olympus 雙晶和單晶測厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機的創新型儀器，可用于大多數測厚應用。

　　技術規格

　　測量

　　·雙晶探頭測量模式:從激勵脈沖后的精確延 遲到個回波之間的時間間隔。

　　·自動回波到回波(可選):在兩個連續底面回 波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。

　　·穿透涂層測量(可選):利用單個底面回波， 測量金屬的實際厚度和涂層厚度(使用 D7906-SM、D7906-RM 和 D7908 探頭)

　　·單晶探頭測量模式(可選):

　　模式 1：激勵 脈沖與個底面回波之間的時間間隔

　　模式 2：延遲塊回波與個底面 回波之間的時間間隔(使用延遲塊式或水浸 式探頭)

　　模式 3：在激勵脈沖之后，位于個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間 間隔(使用延遲塊式或水浸式探頭)

　　·厚度范圍:0.080 mm～635 mm，視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定(要測 量的范圍需要使用單晶選項)

　　·材料聲速范圍:0.508 mm/μs～18.699 mm/ μs

　　·分辨率(可選擇): 低分辨率：0.1 毫米 標準分辨率：0.01 毫米 單晶選項：0.001 毫米

　　·探頭頻率范圍: 標準：2.25 MHz～30 MHz(–3 dB) 高穿透(單晶選項)：0.50 MHz～ 30 MHz(–3 dB)

　　一般規格

　　·操作溫度范圍:–10 ℃～50 ℃

　　·鍵盤:密封、以色彩區分功能的鍵盤，帶 有觸感及聲音反饋