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上海長方光學儀器有限公司


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偏光顯微鏡熔點儀

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產(chǎn)品簡介

偏光顯微鏡熔點儀XPN-300一、用途:XPN-300偏光顯微鏡熔點儀、偏光溫控儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金等部門和相關(guān)高等院校的專業(yè)實驗儀器

詳細介紹

偏光顯微鏡熔點儀 XPN-300
一、用途:
XPN-300偏光顯微鏡熔點儀、偏光溫控儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金等部門和相關(guān)高等院校的專業(yè)實驗儀器。偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導體工業(yè)以及藥品檢驗等領(lǐng)域。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測,有自動P、I、D調(diào)節(jié),及模糊手動調(diào)節(jié)功能,偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設定溫度值。
二、系統(tǒng)簡介:
偏光顯微鏡熔點儀系統(tǒng)是將精密的光學顯微鏡技術(shù)、*的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、的計算機圖像處理技術(shù)地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品。可以顯示屏上很方便地觀察實時動態(tài)圖像,并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
三、技術(shù)參數(shù):
1.目鏡
類 別 放大倍數(shù) 視場(mm)
平場目鏡 10X φ22
十字目鏡 10X φ20

2.物鏡
類 別 放大倍數(shù) 數(shù)值孔徑(NA) 工作距離(mm) 蓋玻片厚度(mm)
物 鏡 4X 0.10 7.18 -
10X 0.25 4.70 0.17
40X 0.65 0.72 0.17
60X 0.85 0.18 0.17
電腦偏光熔點測定儀 XPN-300E
查看大圖
數(shù)碼偏光熔點測定儀 XPN-300Z
查看大圖
3.放大倍數(shù):40X 100X 400X 600X
系統(tǒng)放大倍數(shù):40X-2600X
4.聚光鏡數(shù)值孔徑:NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡,中心可調(diào)
5.起偏鏡:振動方向360°可調(diào),帶鎖緊裝置,可移動光路
6.檢偏鏡:可移出光路,旋轉(zhuǎn)范圍90°,內(nèi)置勃氏鏡,中心可調(diào)
7.補償器:λ片(Ф18mm,一級紅,光程差551nm)
λ/4片(Ф18mm, 光程差147.3nm)
石英楔子(12x28mm,Ⅰ-Ⅳ級)
8.調(diào)焦系統(tǒng):帶限位和調(diào)節(jié)松緊裝置的同軸粗微動,微動格值 0.002mm
9.電光源:6V/20W 鹵素燈(亮度可調(diào))
10.防霉:的防霉系統(tǒng)
四、偏光熔點測定儀
1.偏光熔點測定儀
在 20X 物鏡下工作溫度可達到300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制;溫度程序段由用戶自行設定,30段溫度編程,循環(huán)操作,能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度,及在該段內(nèi)可維持時間,升溫速率可調(diào)、精度±0.3 ℃、記憶點讀數(shù)。
2.顯微加熱平臺
可以隨載物臺移動、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調(diào)、工作區(qū)溫度梯度低于± 0.1
起始溫度室溫
工作區(qū)加熱使用面積至少1X1cm
工作區(qū)溫度梯度不超過 ± 0.1oC
透光區(qū)域 2mm以上,可調(diào)
顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2
熱臺可以隨載物臺移動
熔點測定 溫度超過100度時,25X的物鏡工作距離太近,容易損壞鏡頭,請選用長工作距離的 20X、40X 物鏡
五、系統(tǒng)組成:
電腦型高精度偏光顯微鏡(XPN-300E): 1、顯微鏡 2、熔點儀 3、攝像器(CCD) 4、A/D(圖像采集) 5、計算機
數(shù)碼相機型高精度偏光顯微鏡(XPN-300Z):1、顯微鏡 2、熔點儀 3、數(shù)碼相機
數(shù)碼顯微成像系統(tǒng) 電腦顯微成像系統(tǒng)
六、選購件:
1、高像素成像系統(tǒng) 2.偏光顯微鏡分析軟件 3.物鏡:20X
工廠實驗室選型 高校實驗室選型
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如何選擇優(yōu)質(zhì)的供應商
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5.采購顯微鏡時必須注意的地方 6.如何選擇"性價比"高的顯微鏡
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