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X射線衍射檢測儀X射線是種能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、
照相機感光成像。
X射線衍射儀，用于材料晶體結構的表特征分析檢測，晶格常數的精密化、結晶度的計算、晶體粒徑和晶格應力的計算、進行軟件解析晶體的結構。可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，
并形成了定性、定量的巖性識別方法.
還可以分析天然或是人工合成的無機或是有機材料。在材料學、物理學、化學、化工、聚合物、冶金、礦物、催化劑、鈦白粉、水泥、制藥、塑料,等眾多項目和行
業中都有廣泛應用，是科技院校和材料研究、生產和科研機構、廠礦等單位的分析設備。
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