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多光束光斑分析儀在3D感應系統,面部識別方面的應用

時間:2020/11/13閱讀:199
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普通光束分析儀一般情況下一次只能測量一個光束。然而,隨著新技術的發展對光斑分析儀提出了更高的要求。例如激光二極管的市場不斷擴大,像手勢識別,自動駕駛,高性能激光器等許多新興應用都是基于多光束并行發射的概念,并行發射的實現則需要由很多個激光器組成,并都從一個晶片發射出來。例如蘋果的新款iPhone10,其發射了約30,000個光束點并將其投影到用戶的臉部,而反射的信息被接收后再重建3D臉部特征以進行識別。另一個例子是垂直表面發射激光器VCSEL系列,由于使用功率低,已經迅速成為世界上較*的技術之一。
目前,這些新技術在光源的光束的均勻性,光束輪廓特性(如平頂或高斯),熱穩定性,單芯片輸出功率>1 kW / cm 2等性能方面都需要嚴格評估。對于所有這些應用,不僅要測量陣列的總輸出功率,而且還要測量給定芯片上每個VCSEL激光器的相對發射水平和光束分布,這一點是十分重要的。在這個多光束器件行業當中,一個芯片內部可以含有一到兩個激光器,還可以將三萬多個激光器密集地封裝在一個芯片內。
分束器DOE在高功率激光器的分束中表現出非常重要的地位,甚至被行業專家認為是實現工業4.0的關鍵器件。一臺高功率激光器可以分為多束激光,能夠并行地執行材料的處理,直接將傳統激光器設備的加工效率成倍提高。下圖展示了將一個光束分成多個光束的典型案例。
 
圖1:高功率硬焊分束器與一分十六光束的分束器
VCSEL陣列技術允許將多個激光器封裝在一個芯片上。在這種情況下,VCSEL的輸出激光可以按大小進行線性縮放,每一個激光器都是相互獨立且特性基本相同的。芯片上的激光器越多,其輸出功率就越大,將它們全部連接到同一個電源上會導致它們全部并行發射,要是將它們連接在不同的電源上就可以產生不同的模式。但是,也會有一些負面作用例如溫度升高,幾何形狀不正確和不規則,這些將會導致各種激光以不同的能量和發散來發射。一臺好的VCSEL光束分析儀可以并行分析多個不同的信號源,并即時分析比較VCSEL激光的近場和遠場的輸出。
各種應用對激光測量提出了一個很高要求,以提供一種敏捷,準確的光束測量技術,來同時并行測量幾束到幾千束的激光光束。每束激光均可進行單獨測量分析,以便得到它們之間的相對強弱或相互關聯的關系,這些多光束光斑分析儀都應覆蓋較寬的光譜范圍和較大的功率跨度。
為了應對這一挑戰,深圳海納光學專業代理的DUMA廠家開發了一種高分辨率光束輪廓儀Beamon U3(2.4兆像素,尺寸為11x7mm),用于實時分析平行激光的輪廓。該設計允許根據所要測試的芯片,來靈活地選擇要測試的激光數量,從而實現高分辨率光束輪廓的分析。使用快速激光輪廓儀,該技術適用于批量生產和過程檢驗。為了應對測量大功率激光的挑戰,DUMA特制了衰減器和光束采樣器,滿足各種大功率測試的需求。
 
圖2:用BeamOn U3大功率光束輪廓儀測試典型高功率VCSEL陣列的2D與3D圖
如圖2所示,典型的單芯片激光器陣列應該進行測試,并且與上文所述的各種參數做對比。此外,遠場和近場也應該被測試,這可以通過以下方法實現:將聚焦透鏡安裝到光束輪廓儀上,并在透鏡處于無限遠位置時進行測量,然后聚焦在芯片的表面上。另外,對于不是快速擴展的光束,通過將光束輪廓儀移動到靠近模具或遠離模具的位置來進行。基于高分辨率攝像機的光束輪廓儀進行的典型測量,實際上是通過對探測器進行劃分,每個區域測試單一光束,用戶可以選擇自行劃分或通過軟件提供的自動較佳劃分,來同時進行多光束測量。
這個設置就像是把一個光斑分析儀變成多個獨立的光束輪廓儀,每個輪廓儀分析一個光束,其中所有光束均進行平行分析,隨后出現的典型測試結果(例如:光束之間的距離,相對亮度,輪廓和*穩定性)都被收集起來,并進一步分析。
 
圖3:在窗口中顯示每條光束的測試結果,進行3D多光束的重建 
如圖3所示,多光束光斑分析儀除了可以顯示每個激光光束的實時相對亮度之外,用戶還可以打開或關閉帶有各自編號的“結果”窗口,以獲取每個虛擬光束輪廓儀的詳細信息。典型的信息包括光束在三個層次上的尺寸、位置和更多的信息以非圖形的方式顯示為實時文件。為了獲得生動清晰的信息,將多光束輪廓儀記錄的所有模具光束進行3D重建,展示了在各條光束和分束效果。 
為了進行遠場發散的計算,光束輪廓儀應包括一個不失真的透鏡系統,該系統的位置恰好距檢測器的表面一個焦距,在這種情況下,對于小光束,每個激光器的光束發散度由下式給出:
 
對于高功率的應用,將會直接就進行測量,應該使用光束采樣器,以使大部分功率被引向了光束收集器,而只有一小部分應被引向測量儀器。如果涉及到非常高的功率,則應如圖2所示對光束采樣器本身進行冷卻,通過將壓縮空氣吹到棱柱形光束采樣器上來實現冷卻。此外,這種加壓冷卻將為光束采樣器提供防護簾,并主動清除顆粒,進而防止在其表面上堆積,這將適用于并行測量高功率激光束。
高質量、高分辨率的光束輪廓儀可以測試多條并行的激光源或激光束,這種技術在新興市場上具有一定的潛力。激光雷達,材料加工,醫療應用等應用都將會受益于并行光束分析技術,以獲得更好,更精密的相關應用設備和材料。除了以上特點,這些設備還可以大大減少測試時間和提高高通量激光系統的GONO-GO決策。

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