Phasics公司基于創新的高分辨率波前傳感技術，提供了all-round的測量和成像解決方案。產品能夠滿足了激光工程師，鏡片制造商和細胞生物學家的需求。相位解決方案全部基于*的patent技術，即四波橫向剪切干涉儀。這項技術的開發克服了Shack Hartmann的局限性，并且提供超高分辨率（高達400×300個測量點），高靈敏度和大動態范圍。此外，由于其直接設置而無需中繼透鏡，因此它體型緊湊小巧，能夠消色差且易于使用。

其相變測試能力在波前測量和四波橫向剪切干涉儀分析中均處于leading position。對于每種應用，專家級軟件包均提供完整且相關的分析，以充分利用高分辨率波前測量。Phasics著眼于客戶，著眼于滿足所有需求；其強大的研發團隊不斷開發創新功能，并根據客戶要求定制標準配置。

法國Phasics SID4 波前傳感器系列在激光參數測試上的應用（作為光斑分析儀）：

Phasics波前傳感器可同時提供高分辨率的相位圖和強度圖。 它與SID4軟件結合使用，可以對激光束進行完整的參數測試報告：波前像差，激光束參數，光束輪廓，M2光束質量參數等等參數。其緊湊的設計可以直接定位在激光光束的任何位置，因此它可以直接測量發散光束。緊湊且易于對準，無中繼透鏡的發散光束測量，光束輪廓。

對于大功率激光工程師

-設計并保證的激光參數質量

-實驗前檢查激光

對于激光制造商：

-在研發或生產中進行快速全面的光束質量控制（包括M2）

-SID4可用于400nm-1000nm 的激光的波前像差，強度分布，波前位相、澤尼克參數, 激光的M2值等參數進行實時的測量及參數輸出。

適用于任何激光器

-連續到脈沖激光器

-UV到遠紅外

-寬帶激光器，例如OPO激光器，飛秒激光器

法國Phasics SID4 波前相差儀特點：

-全光束特征(具有高分辨率的相位+強度)包括：像差（Zernike，Legendre),PSF，斯特列爾比，環繞能量,光束輪廓

-符合ISO 11146標準的M2測量：一次性測得;適用于任何激光，包括飛秒激光.

-在激光的任何點均進行全面測試：緊湊且易于對準，無需中繼透鏡即可進行發散光束測量，光束輪廓

-圓形或矩形瞳孔，多通道測試，傾斜光束

法國Phasics SID4 Element，SID4Bio，SID4-sC8波前分析儀在成像上的應用：

Phasics引入了光學顯微鏡的新形式：定量相位成像（QPI）。該解決方案包括一個類似于照相機的儀器，該儀器可與所有標準顯微鏡兼容，并具有適合許多應用的全面軟件套件。主要的原理是：每個樣本在光傳播時都會在光路上產生延遲。該延遲量（相移或光程差）可通過相位技術測量，由此此獲得圖像，對于該圖像，每個像素值是所測量的局部相移。像素值與物理厚度和樣本局部折射率有關。

生命科學：細胞學，無單細胞成像，組織學等方面。 它可以輕松地對標本（例如活細胞，組織或任何其他半透明標本）進行無標簽成像。 它提供了無偽影的定量相圖像，可精確測量有價值的參數：形態，干重，單個細胞的密度……它適用于癌癥和干細胞研究，藥物篩查，血液檢查……智能儀器只需插入任何光學儀器即可。易于多模態的設置，例如相熒光組合。

熱成像：Phasics提出的使用四波剪切干涉儀（TIQSI）解決方案的熱成像技術使用高分辨率波前傳感器，該傳感器與任何具有自然寬帶照明條件的顯微鏡兼容，并帶有任何附加的激光模塊。熱成像顯微鏡技術可以研究細胞生物學，物理學和化學領域的各種應用。所使用的熱成像技術是菲涅耳研究所（G. Baffou）博士與Phasics SA合作開發的一種非侵入式熱顯微鏡技術，能夠將照明納米結構產生的熱量表征為納米級。TIQSI基于對已知介質的熱誘導折射率變化的測量，該測量是通過波前測量將其轉換為溫度變化值。

材料檢查：折射率分析，波導測量，表面檢查，LIDT評估等等方面。定量相位成像（QPI）技術非常適合用作半透明樣品的折射率測量，具有準確且無損的優勢。 QPI技術可以在半透。明樣品（例如玻璃）中提供具有亞納米級精度的波導的精確折射率分布。對于LIDT技術，目標是檢測材料表面特征中激光引起的變化。 QWSLI技術的優勢在于可以進行原位表面分析。

法國Phasics Kaleo MTF測試儀在透鏡質量控制以及光學表面測試的應用：

Phasics提供了*的鏡頭測量原理,無需中繼透鏡即可直接測量波前。利用使用光傳播理論進行計算：提供波前像差和MTF。不使用目標就可以在任何頻率下獲得MTF。僅一次波前采集便可提供完整的鏡頭質量參數：適用于任何頻率和方位的MTF（調制傳遞函數），TWE（傳輸的波前誤差）和像差（Zernike系數）的測試，可同時設置的多個波長進行測試。擁有嚴格的MTF和TWE的離軸波前分析，并且可以在測量平面上與Zemax設計的比較。

總結：波前探測主要是測量光束的相位變化，利用干涉的原理，得到干涉的圖樣對所測量的物體進行無損探測。可探測激光光束的所有參數，應用于成像方面：可用來做細胞組織的無熒光標記成像，可用于熱成像以及材料的檢查。此外還可以用于光學透鏡質量控制，光學表面測試。