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LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀

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更新時間:2020-12-30 11:20:43瀏覽次數:277

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產品簡介

LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀用于測量磁性基材上的非磁性涂層的厚度(根據DIN EN ISO 2178)并通過渦流法測量非磁性導電基材上的非導電涂層的厚度(根據DIN EN ISO 2360)。

詳細介紹

LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀具有精確的測量技術,操作簡便。還包括通過解鎖代碼進行快速現場升級的選項。

系統可定制的涂層測量

LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀用于測量磁性基材上的非磁性涂層的厚度(根據DIN EN ISO 2178)并通過渦流法測量非磁性導電基材上的非導電涂層的厚度(根據DIN EN ISO 2360)。

應用

  • 可靠的技術與舒適的工具相結合,例如將厚度值顯示為模擬指針,類似于Windows的文件管理以及10種不同語言的免費選擇,可以滿足有抱負的用戶的所有愿望。
  • LEPTOSKOP 2042是一款經濟型儀器,電池使用壽命超過100小時。
  • 該儀器會記錄操作時間和測量次數,因此這些重要參數本身可用于正確跟蹤測試設備。
  • 供貨范圍內包括彩色橡膠保護套,并具有防滑保護功能,可在工業環境中保護儀器。

 特點:
大型圖形顯示屏48毫米x 24毫米,帶照明
校準選項:
出廠前已校準,可立即進行測量
在未知涂層上校準*
零位校準*
在未涂覆的基材上進行一次和多箔校準*
校準涂層材料*
校準數據可以單獨存儲在單獨的校準文件中,也可以從那里重新加載。

可選擇的顯示模式,以+地適應測量任務*
輸入和監控限額*
在Windows©下可以輕松管理文件來存儲讀數*
可與PC軟件 EasyExport和 iCom一起使用
統計*
統計評估多達999個讀數
小,大,平均值,讀數數量,標準偏差,限值監控
局部厚度和平均涂層厚度(DIN EN ISO 2808)
在線統計,所有統計值一目了然

LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀,KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042選型:
LEPTOSKOP 2042具有三種配置級別:
基本 -質量可靠的基本功能
統計 -附加統計評估
統計和數據存儲 -統計評估和數據存儲

如果需要,可以隨時將量規升級到高級和/或專業級別。升級過程通過代碼執行,可以在現場輸入代碼以解鎖模塊“統計”和/或“統計和數據存儲”。如果要為新的測量需求添加功能,則無需將儀表返回KARL DEUTSCH進行升級或購買新儀表。


 

 LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀,KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042技術數據
 
串行接口用于將數據傳輸到RS232或USB
電源通過電池,USB或電源裝置
測量范圍0-20000 µm(取決于探頭)
測量率每秒高達2個讀數
存儲高 9999個讀數(多140個文件)
測量不確定度
(校準后)
涂層厚度<100 µm:讀數的1%+/- 1 µm 
涂層厚度> 100 µm:讀數的1.0.3%+/- 1 µm 
涂層厚度> 1000 µm:讀數的3..5% /-10 µm 
涂層厚度> 10000 µm:讀數的5%+ /- 100 µm
 
 LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀,KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042附件
 
  • 測試塊和校準箔
  • 探頭定位裝置 -適用于所有微型探頭
  • 定位輔助 -適用于所有微型探針
  • PC軟件iCom-用于數據傳輸和整個目錄結構的便捷管理
  • PC軟件EasyExport-用于將單個讀數或完整文件輕松導出到Windows©程序

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