ELDIMVCProbe-NIR光學視角檢測儀             ELDIMVCProbe-NIR光學視角檢測儀

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ofscopenir適用于大口徑近紅外源的測量。這個系統的孔徑角±40°和一個優秀的角分辨率,實時測量的完整地圖任何NIR來源。ofscopenir在850nm, 905nm, 940nm波長下進行校準。該系統可以測量自動駕駛汽車等市場速的驗證。ofscopenir適用于大口徑近紅外源的測量。這個系統的孔徑角±40°和一個優秀的角分辨率,實時測量的造用于我們系統的復雜光學。它是生產項目開發和開發階段的關鍵參數。它允許您對未來的生產過程進行非常快速的驗證。VCProbe-NIR是一種理想的小孔徑近紅外光源。這個系統允許一個完整的映射在;視角錐和校準的波長940 nm。該設備可用于研發和大批量生產/質量控制等領域的高速、準確VCProbe-NIR是一種理想的小孔徑近紅外光源。系統允許一個完整的映射在視角錐和校準的波。VCProbe-NIR是一種理想的小孔徑近紅外光源。這個系統允許一個完整的映射在;視角錐和校準的波長940 nm。該設備可用于研發和大批量生產/質量控制等領域的高速、準確VCProbe-NIR是一種理想的小孔徑近紅外光源。系統允許一個完整的映射在視角錐和校準的波。