開路電芯事件是指電芯內部開路或者外部連接損壞。事件的發生可能是緩慢的，也有可能是突然的。造成開路電芯事件的可能原因有老化、電芯制造質量差和長時間在惡劣環境中工作。外部連接損壞一般是由于電池組結構差而導致。

　　電池組在連接至負載時會產生大量涌入電流，這時可能出現zui大電芯壓差的誤報。因為電芯阻抗失配而倍增的涌入電流會導致電芯電壓的嚴重失配。有些芯片在報告事件時有延遲，有些芯片則沒有。

　　2 電流檢測

　　用于測量電流的大多數電池系統都有三個電流比較器：放電短路(DSC)、放電過流(DOC)和充電過流(COC)。每個比較器都產生一個延遲，從而允許電流在一段時間內大于限值，隨后再采取行動。

　　與充電器相比，負載受到的控制較少，所以需要進行快速電流放電檢測，以便關斷功率FET，防止損壞電池或功率FET本身。DSC事件發生時，功率FET常常延遲幾十至幾百毫秒才關斷。DSC延遲由定時延遲和功率FET關斷所需的時間組成。功率FET在柵極和源極通過隔離電阻器連接起來時處于關斷狀態。電阻器和柵電容構成RC電路，決定FET的關斷時間。

　　設置總DSC關斷時間延遲時要考慮許多因素。DSC關斷時間由損壞電池和電路的時間，與負載啟動或連接時允許涌入電流通過的時間相較而定。DSC關斷時間與FET的關斷時間必須平衡。FET關斷速度過快會導致電芯測量引腳上產生較大電壓瞬變，zui接近功率FET的引腳zui容易受大電壓瞬變的影響，這些瞬態事件是功率FET與電池之間的跡線中儲存的電感能量，在電池組突然斷開與負載的連接時無處發散的結果。該電感能量發散到開路負載，直至電壓升高到足以激活相連電路的ESD(靜電阻抗器)二極管。如果能量足夠多，元件會承受過大的電應力。跡線中儲存的能量大小是跡線的電感與流向負載的電流之積。跡線中儲存的能量在放電短路條件下zui多，在電芯電壓引腳處進行濾波有助于降低EOS(電氣過應力)事件發生概率。實踐中應使跡線盡可能短和盡可能寬，另外還應仔細選擇負載與功率FET之間的線纜的尺寸和長度。這是可能引起高電壓瞬態事件的另一個因素。

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　　不考慮電芯均衡的Vcell檢測是用來監測過壓、欠壓和開路電芯條件的電壓測量。欠壓條件對應檢測電池組空載情況，要防止電芯脫離電壓作用區(active region)，這一點很重要。鋰離子電芯的作用區為2.5V - 4.2V，鋰聚合物電芯的作用區為2.5V - 3.6V。根據化學性質和設計，電芯的限制電壓決定滿載和空載電芯限值。電芯充電時不能超過電壓上限，否則可能造成電芯損壞。大多數BMS IC都會持續監測過壓和欠壓條件，無論電池充電狀態如何。

　　在對電池組中的所有電芯都進行了測量后，報告zui強電芯與zui弱電芯的總電壓差很有用。大的電池組電壓差可甄別開路電芯或明線事件。A06B-6047-H002大多數系統都有明線測試，以確保測量系統與電芯用導線連接在一起。明線測試不像電芯電壓測量那么頻繁，電芯壓差計算結果可作為系統故障的早期提示。

　　開路電芯事件是指電芯內部開路或者外部連接損壞。事件的發生可能是緩慢的，也有可能是突然的。造成開路電芯事件的可能原因有老化、電芯制造質量差和長時間在惡劣環境中工作。外部連接損壞一般是由于電池組結構差而導致。

　　電池組在連接至負載時會產生大量涌入電流，這時可能出現zui大電芯壓差的誤報。因為電芯阻抗失配而倍增的涌入電流會導致電芯電壓的嚴重失配。有些芯片在報告事件時有延遲，有些芯片則沒有。

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