1.導電型號測試儀KDK-STY-1

導電型號測試儀KDK-STY-1是嚴格按照ASTM F42（非本征半導體材料導電類型的標準測試方法）中的熱探針法設計的導電類型鑒別儀。

本儀器熱探筆內裝有加熱和控溫組件，自動加熱并使溫度維持在40-60℃范圍內，冷熱探筆在半導體材料上產生的熱電動勢，經低噪聲、低漂移的集成運算放大器放大后，用寬表面檢流計指示型號方向，并可定量測出熱電流的數值大小。儀器靈敏度可調，可在廣泛的電阻率（從1000Ω·cm高阻單晶到10^-4Ω·cm重摻單晶）范圍內判別半導體材料型號。

二、技術性能

1、可判別鍺、硅材料的電阻率范圍：

   鍺：非本征鍺～10^-4Ω·cm

   硅：10⁴～10^-4Ω·cm

   實驗證明：在室溫情況下，對于電阻率低于1000Ω·cm的N型和P型硅，本方法結果可靠。

2、熱電流測量范圍：0～±1μA   分六個量程：

±3nA、±10nA、±30nA、±100nA、±300nA、±1μA

zui大偏轉靈敏度：1×10^-11A/格

3、鍺、硅單晶直徑及長度：不受限制。

4、顯示方式：中心刻度為零位的寬表面指針指示器，指針向正方向偏轉被測樣品為P型，指針向負方向偏轉被測樣品為N型。

5、探針：選用ASTM F42標準中建議的不銹鋼作探針材料，針尖為60°錐體，熱筆溫度自動保持在40-60℃范圍內。冷筆與室溫相同。

6、電源及功耗：AC 220V±10%，50HZ交流供電，耗電小于10W。

7、外型尺寸：170×160×230（mm）

8、重量：約2.5kg

 2.四探針電阻率測試儀  型號：KDK-KDY-4

KDK-KDY-4型四探針電阻率測試儀嚴格按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國家標準設計制造，并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進。整套儀器有如下特點：
1、配有雙數字表：一塊數字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另一塊數字表適時監測全過程中的電流變化，使操作更簡便，測量更精確。
數字電壓表量程：0—199.9mV 靈敏度：100μV 輸入阻抗：1000ΜΩ
基本誤差±（0.4-0.5%讀數+0.1%滿度）
2、可測電阻率范圍：10—3 —1.9×103Ω·cm。
可測方塊電阻范圍：10—2 —1.9×104Ω/□。
3、設有電壓表自動復零功能，當四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，只有1、4探針接觸到硅片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、3探針間的電壓（即電阻率）值，避免空間雜散電波對測量的干擾。
4、流經硅片的測量電流由高度穩定（萬分之五精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響，整機測量精度＜3%。
電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、儀器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉換開頭及繼電器（＞10萬次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。
6、四探針頭采用上*的紅寶石軸套導向結構，使探針的游移率減小，測量重復性提高

3.表面振動壓實試驗儀  型號：HYL8-ZYC-2

本儀器是采用表面振動壓實法測定無粘性自由排水粗粒土和巨粒土（包括堆石料）的zui大干密度的試驗儀器。 
1、電源電壓：380V；
2、耗電功率：≤looow；
3、振動頻率：47.5Hz；
4、激振力二2.5-4.2KN；
5、夯板作用在試樣表面靜壓力：13、8Kpa；
6、試筒規格：鋁制大筒一個內徑280mm，鋁制小筒一個內徑152mm；

4.便攜式四探針電阻率測試儀 型號：KDK-KDY-1A

概述
便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導體材料電阻率的及國家標準測試方法有關規定設計。
它主要由電器測量部份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。
為減小體積，本儀器用同一塊數字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產品檢測。對1～100Ω•cm標準樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內達到國家標準一級機的水平。
測量范圍：
可測量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。
可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口
當被測材料電阻率≥200Ω•cm數字表顯示0.00。
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔
10mA量程：0.1～1mA 連續可調
10mA量程：1mA ～10mA連續可調
恒流精度：各檔均優于±0.1%
適合測量各種厚度的硅片
（3） 直流數字電壓表
測量范圍：0～199.9mv
靈敏度：100μv
準確度：0.2%（±2個字）
（4） 供電電源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W
（5） 使用環境：
相對濕度≤80%
（6） 重量、體積
重量：2.2 公斤
體積：寬210×高100×深240（mm）
（7）KD探針頭
壓痕直徑：30/50μm
間距：1.00mm
探針合力：8±1N
針材：TC
 

5.四探針電阻率測試儀 型號：KDK-KDY-1

四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試架及四探針頭組成。
本儀器的特點是主機配置雙數字表，在測量電阻率的同時，另一塊數字表（以萬分之幾的精度）適時監測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉換，更及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩定。本機配有恒流源開關，在測量某些箔層材料時，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發生，更好地保護箔膜。儀器配置了本公司的產品：“小游移四探針頭”，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復性和準確度。本機如加配HQ-710E數據處理器，測量硅片時可自動進行厚度、直徑、探針間距的修正，并計算、打印出硅片電阻率、徑向電阻率的zui大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均習庋。給測量帶來很大方便。
2、主機技術能數
（1）測量范圍：
可測電阻率：0.0001～19000Ω•cm
可測方塊電阻：0.001～1900Ω•□
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.001～100mA 五檔連續可調
量程：0.001～0.01mA
0.01～0.10mA
0.10～1.0mA
1.0～10mA
10～100mA
恒流精度：各檔均低于±0.05%
（3）直流數字電壓表：
測量范圍：0～199.99mV
靈敏度：10μV
基本誤差：±（0.004%讀數+0.01%滿度）
輸出電源：≥1000ΩM
（4）供電電源：
AC 220V±10% 50/60 Hz 功率：12W
（5）使用環境：
溫度：23±2℃ 相對濕度：≤65%
無較強的電場干擾，無強光直接照射
（6）重量、體積：
主機重量：7.5kg
體積：365×380×160（單位：mm 長度×寬度×高度）

備注：
等級測量時（測電阻率），精度<3%
電氣測量時（測電阻），精度在0.3%以內

備注：
儀器包括：主機一臺；測試架（包括臺面）一個；四探針頭1個