X射線鍍層測厚儀,X熒光無損測厚儀,X-RAY膜厚儀,電鍍測厚儀 韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀

X射線鍍層測厚儀,測量電鍍層厚度,如電鍍或化學鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍銅,鍍鋅鎳合金等.

機器配置

全自動臺面

自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品）
測量樣品高度不超過4cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測試范圍：0.04－35um

可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測量時間：10－30秒

測量功能:單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層

精度控制：
      *層：±5%以內
      第二層：±8%以內
      第三層：±12%以內

XRF2000電鍍鍍層測厚儀/電鍍膜厚測試儀

XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能*,而且價錢*
同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果
甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統，十字線自動調整。超大/開放式的樣品臺，
可測量較大的產品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業的*。可測量各類金屬層、合金層厚度等。

可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U）  原子序 22 – 92
準直器：固定種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
電腦系統：液晶顯示器，彩色打印機
綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析 統計功能

詳細資料請電:

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