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北京科威精益科技有限公司
本儀器是一種便攜式測量儀,可以快速、無損、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現場。配置不同的探頭,適用于不同場合。是材料保護和生產控制*儀器。
涂層測適用范圍:HS系列覆層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
厚儀的詳細介紹
可使用6種測頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)進行測量;
三種校準方法: 一點校準、二點校準、基本校準;
顯示分辨率: 0.1μm(測量范圍小于100μm)
1μm (測量范圍大于100μm)
有兩種工作方式:直接方式和成組方式
有兩種測量方式:連續測量和單次測量
有兩種關機方式:手動關機和自動關機
可設置限界:對限界外的測量值能自動報警,并可用直方圖對一批測量值進行分析;
有刪除功能:對粗大誤差及錯誤設置可進行刪除處理;
打印功能:可打印測量測量值、統計值、限界、直方圖
測量范圍:
(1) F400探頭、N400探頭:0—400μm
(2)F1探頭、F1/90探頭、N1探頭:0—1250μm
(3)F10探頭:0—10000μm
(4)CN02探頭:10-200μm(根據測量要求選用不同探頭
測量精度:
不同探頭精度要求不同
(1)F400探頭、N400探頭:一點校準:(2%+0.7);二點校準:(1%+0.7)
(2)F1探頭、F1/90探頭、N1探頭、CN02探頭:一點校準:(2%+1);二點校準:(1%+1)
(3)F10探頭:一點校準:(2%+10);二點校準:(1%+10)
使用溫度:0~40℃ 外型尺寸:150×80×30m 重 量:250g
功能 | HS | HS2100N | HS3100 | HS4100 |
測量原理 | 磁性 | 渦流 | 磁性/渦流 | 磁性/渦流 |
測量范圍 | 標準配置探頭(F1/N1):1~1250μm | |||
測量精度 | ±(2%H+1)μm(零點校準) | |||
統計量 | 平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(NO)、標準偏差(S.DEV) | |||
存貯和統計 | 15個測量值 | |||
測量精度 | ±(2%H+1)μm(零點校準) | |||
零點校準 | √ | √ | √ | √ |
二點校準 | √ | √ | √ | √ |
刪除功能 | √ | √ | √ | √ |
自動關機 | √ | √ | √ | √ |
蜂鳴聲提示 | √ | √ | √ | √ |
測量方式 | √ | √ | √ | √ |
欠壓指示 | √ | √ | √ | √ |
錯誤提示 | √ | √ | √ | √ |
標準配置 | 主機 | 主機 | 主機 | 主機 |
選配件 | F1、F400、F10測頭 | 通訊軟件 |
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主營產品:超聲波探傷儀,滲透探傷劑,探傷試塊,各種探傷耗材,超聲波探頭,磁粉探傷儀,X射線探傷儀,渦流探傷儀,光譜儀,硬度計,測厚儀,超聲波測厚儀,涂層測厚儀,測溫儀,金像顯微鏡,聲發射系統等產品
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