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四探針金屬/半導體電阻率測量儀

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產品型號

品       牌

廠商性質經銷商

所  在  地天津市

更新時間:2015-01-15 02:38:40瀏覽次數:137次

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由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低,它們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要,本儀器采用四探針法原理來實現對不同金屬、半導體、導電高分子材料的電阻率的測量。

 

由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低,它們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要,本儀器采用四探針法原理來實現對不同金屬、半導體、導電高分子材料的電阻率的測量。
用途:
(1)       金屬、半導體、導電高分子薄膜(塊體)電阻率的測量;
(2)       金屬薄膜材料電阻率的測量(zui大厚度0.2毫米);金屬塊體材料電阻率的測量(zui大厚度6毫米)
儀器組成:
1、 四探針組件
由具有引線的四根探針組成。
2、 SB118精密直流電流源
輸出電流10-6~0.2安培范圍內可調。
3、 直流數字電壓表

直流數字電壓表是具有6位半字長、0.1為微伏電壓分辨率的帶單片微機處理技術的高精度電子測量儀器。

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