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萊森光學（深圳）有限公司
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LiSpec-NIR4000Pro高分辨率紅外光譜儀是萊森光學（LiSen Optics）專門針對光通信領域紅外激光光譜波長測量，LiSpec-NIR4000Pro主要光譜范圍1522nm -1578nm，分辨率優于0.2nm，屬于微型光譜儀領域分辨率，由于其性價比高可以替代日本橫河AQ6360/AQ6370D或安利MS9740A光譜儀在紅外激光光譜...
隨著激光技術越來越廣泛地用于工業加工、通信、測量，以及醫療科研等領域，快捷地測量和分析激光器的光譜已經成為一種迫切需求。而在我們實際應用激光的過程，往往需要事先知道激光的峰值波長、中心波長、譜線半高寬FWHM，那么就需要采用激光波長測量儀獲得以上激光相關光學參數。
LiSpec-NIR4000Pro高分辨率紅外光譜儀是萊森光學（LiSen Optics）專門針對光通信領域紅外激光光譜波長測量，LiSpec-NIR4000Pro主要光譜范圍1522nm - 1578nm，分辨率優于0.2nm，屬于微型光譜儀領域分辨率，由于其性價比高可以替代日本橫河AQ6360/AQ6370D或安利MS9740A光譜儀在紅外激光光譜波長測量，它可以方便地監測到激光的峰值波長、中心波長、光譜相對強度、半寬值（FWHM）、光譜波峰數目等參數隨時間變化的情況。該光譜儀其的大焦距光學平臺設計，使得該產品具有信噪比更高，速度更快，可靠性穩定性更好的優勢，非常適合于高分辨率紅外激光光譜波長的檢測。
對于連續激光器來說，測量尤為簡單。可按如上測量原理示意圖搭建光路，運行軟件并設置合適的積分時間，就可以得到一個合適的光譜圖。為了使測量的激光峰值波長更為準確，正確操作尤為重要，在測量激光時應該注意的是，當激光功率很強時，要避免光譜儀飽和，一般不會將激光直接耦合入光纖，而是先將激光打在一個屏上，然后光纖接收從屏散射出的激光信號；當激光功率相對不強時，我們會采用以上示意圖——光纖加余弦探頭或積分球方法連接光譜儀對激光進行測量。
對于重復頻率比較高（比如100 Hz以上）的脈沖激光而言，可以把它當成連續激光來測量。而重復頻率比較低，或者在個別的需要測量單脈沖的情況下，為了和激光脈沖精準同步，光譜儀配置光觸發器就可以實現脈沖激光與光譜同步觸發測量，實時獲得脈沖激光光譜。
拉曼測量系統主要由光譜儀、激光器、拉曼探頭、拉曼識別光譜分析軟件等組成，拉曼散射主要為斯托克斯和反斯托克斯，斯托克斯拉曼散射通常要比反斯托克斯散射強得多，拉曼光譜儀通常測定的大多是斯托克斯散射，常用拉曼光譜儀有532/785/1064拉曼光譜儀，拉曼測量相對熒光信號會更弱一個數量級，通常我們在針對微弱拉曼信號測量我們要進行表面拉曼增強（SERS）的方法來提高拉曼信號SERS。
萊森光學的光纖光譜儀因其的靈敏度和高信噪比的特點，可以搭配激光器、拉曼探頭等配件，進行對微弱光譜信號的拉曼測量應用，廣泛應用于食品安全、化學實驗室、生物及醫學等光學方面領域，研究物質成分的判定與確認；還可以應用于刑偵中對的檢測及珠寶行業的寶石鑒定。
輻射光能量可以量化為輻射通量，即一種表征從光源發出的每秒輻射能量（W）的度量標準。輻射測量一般要通過已知光譜能量分布的標準光源，對光譜儀系統進行輻射標定，才能通過量化參數進行輻射測量。輻射能量與人眼視覺相關聯（光度學），就可以得到按照CIE中所定義的表征觀測者平均視覺的光譜發光效率函數。因此輻射測量定義輻射度學參數、光度學參數、色度學參數。輻射度學參數主要以輻照度μW/cm2、輻亮度µWatt/sr、輻射通量µWatt以及光子數µMol/s/m2，µMol/m2，µMol/s和µMol，光度學參數流明Lumens、光照度Lux、光強度Candela，色度學參數X，Y，Z，x，y，z，u，v，色溫、CRI顯色指數等。
輻照度測量
LED顏色測量
光譜儀測量吸光度的方法是將某一波長的平行光通過一塊平面平行物體，對透過物體的光束進行檢測。由于一部分能量被樣品中的分子吸收，檢測的入射光的強度要高于透過樣品的光強。吸光度被廣泛運用于液體和氣體的光譜測量技術中，可以對物質進行定量鑒別或指紋認證等，還可以將該應用集成到工業應用環境和客戶所關注的測試中。
使用萊森光學模塊化光譜儀，可針對特定的吸光度測量來選擇不同波長范圍和分辨率的光譜儀，并且能在實驗室或者現場，對整套光學測量裝置進行快速配置。可以基于萊森光學優質的光譜儀，選擇紫外光源、不同光程氣室、吸收池、特定吸收光路模塊、光纖探頭進行靈活易用的搭配，針對不同的吸光度試驗搭配出多種配置選擇。
液體吸光度
吸光度測量（比色皿）
吸光度測量（光纖探頭）
氣體吸光度
薄膜測量系統是基于白光干涉原理來確定光學薄膜的厚度。白光干涉圖樣通過數學函數被計算出薄膜厚度。對于單層膜，若已知薄膜介質的n和k值即可計算出它的物理厚度。測量的膜層厚度從10 nm到50 um，分辨率可達1 nm。薄膜測量應用于半導體晶片生產工業，此時需要監控等離子刻蝕和沉積加工過程。還可用于其它需要測量在金屬和玻璃基底上鍍制透明膜層的領域，如金屬表面的透明涂層和玻璃襯底。
隨著工業的蓬勃發展，對材料本身特性的質量控制愈加嚴格，利用光纖光譜儀進行快速準確的透/反射光譜的測量技術也日益成熟。透/反射光譜測量是光譜測量的基本手段，通常需要使用光譜儀、光源、光纖、測量支架、標準參比樣品、和測量軟件等設備。對于不同種類的樣品，為了獲取更好的光譜數據，這兩種基本模式又會演化為更多的形式。
光纖光譜儀采用光纖光路，解決了光路在儀器集成中的限制。并且萊森光學的光纖光譜儀具有體積小，穩定性高，支持軟件二次開發，配件豐富等特點，已經成功的廣泛應用于玻璃、高分子材料等行業的測試。萊森光學為用戶提供了以光譜儀為核心的光譜測量設備，利用這些配置豐富的設備，即可搭建各種常見的光譜測量系統。
反射測量
反射測量（探頭）
反射測量（積分球）
透射測量
熒光物質在特定波長的輻射能量輻射下，能發射出具有一定光譜分布的輻射，且一般都是在各個方向上輻射能量的散射光。熒光光譜測量產生的熒光能量比激發光的光子能量小，只相當于激發光能量的3%左右，其靈敏度高、選擇性強、樣品用量少、方法簡便、具備環保性。在食品加工過程中食品安全的監測、生物醫學中病變的熒光診斷、地質學中石油礦物勘探、土壤礦物成分的測定以及物質中微量元素的檢測等工程應用中有著廣泛的應用。萊森光學光纖光譜儀采用了可更換狹縫、可選擇的波長范圍和分辨率設計，使客戶能根據自己的需求配置自由搭配適合參數的熒光測量系統。
熒光測量（液體）
熒光測量（粉末、固體）
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